様々な分析手法、解析技術を用いて、お客様が知りたい情報を的確に取得して、わかりやすい形で提供いたします。

■ 使用機器・評価内容

以下の分析、評価が可能です。また、この他の手法、技術にも対応可能ですので、お気軽にお問合せください。

使用機器	評価内容	適用例
SEM（走査電子顕微鏡）	表面観察、寸法測定	試料表面観察、粒径測定、試料断面観察
TEM（透過電子顕微鏡）	表面観察、寸法測定	形状・形態の観察、微粒子の寸法・形状評価
AFM（原子間力顕微鏡）	表面観察、寸法測定、段差測定	基板や薄膜の表面粗さ評価、MEMS の評価
接触式段差計	寸法測定、段差測定	段差測定、プローブ先端R測定
分光エリプソメーター	膜厚測定	薄膜の厚さ測定、屈折率測定

■ ご依頼からの流れ

ご依頼から、お打合せ、評価、納品までの流れは以下に記載してあります。

＊ご依頼からの流れ

神奈川県下をはじめ、全国からのご依頼に対応いたします。また、近隣の機関とも連携して最適な分析・評価を実施するように心がけています。詳しくはお問合せください。

今後、対応できる測定機器、分析、評価内容を拡充していきます。